SN74ABT8245DWR
Nur als Referenz
| Teilenummer | SN74ABT8245DWR |
| PNEDA Teilenummer | SN74ABT8245DWR |
| Beschreibung | IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC |
| Hersteller | Texas Instruments |
| Stückpreis | Angebot anfordern |
| Auf Lager | 8.298 |
| Lager | Shipped from Hong Kong SAR |
| Voraussichtliche Lieferung | Jun 3 - Jun 8 (Wählen Sie Expressed Shipping) |
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SN74ABT8245DWR Ressourcen
| Marke | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Artikelnummer | SN74ABT8245DWR |
| Kategorie | Halbleiter › Logik-ICs › Logik - Speziallogik |
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SN74ABT8245DWR Technische Daten
| Hersteller | |
| Serie | 74ABT |
| Logiktyp | Scan Test Device with Bus Transceivers |
| Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
| Anzahl der Bits | 8 |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Montagetyp | Surface Mount |
| Paket / Fall | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Lieferantengerätepaket | 24-SOIC |
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