SN74ABT8646DWR
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| Teilenummer | SN74ABT8646DWR |
| PNEDA Teilenummer | SN74ABT8646DWR |
| Beschreibung | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC |
| Hersteller | Texas Instruments |
| Stückpreis | Angebot anfordern |
| Auf Lager | 3.816 |
| Lager | Shipped from Hong Kong SAR |
| Voraussichtliche Lieferung | Jun 19 - Jun 24 (Wählen Sie Expressed Shipping) |
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SN74ABT8646DWR Ressourcen
| Marke | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Artikelnummer | SN74ABT8646DWR |
| Kategorie | Halbleiter › Logik-ICs › Logik - Speziallogik |
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SN74ABT8646DWR Technische Daten
| Hersteller | |
| Serie | 74ABT |
| Logiktyp | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
| Anzahl der Bits | 8 |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Montagetyp | Surface Mount |
| Paket / Fall | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Lieferantengerätepaket | 28-SOIC |
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Hersteller NXP USA Inc. Serie 74LVT Logiktyp Driver/Receiver Versorgungsspannung 2.7V ~ 3.6V Anzahl der Bits 12 Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C Montagetyp Surface Mount Paket / Fall 32-TSSOP (0.240", 6.10mm Width) Lieferantengerätepaket 32-TSSOP |
