SN74BCT8373ANT
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| Teilenummer | SN74BCT8373ANT |
| PNEDA Teilenummer | SN74BCT8373ANT |
| Beschreibung | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP |
| Hersteller | Texas Instruments |
| Stückpreis | Angebot anfordern |
| Auf Lager | 6.696 |
| Lager | Shipped from Hong Kong SAR |
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SN74BCT8373ANT Ressourcen
| Marke | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Artikelnummer | SN74BCT8373ANT |
| Kategorie | Halbleiter › Logik-ICs › Logik - Speziallogik |
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SN74BCT8373ANT Technische Daten
| Hersteller | |
| Serie | 74BCT |
| Logiktyp | Scan Test Device with D-Type Latches |
| Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
| Anzahl der Bits | 8 |
| Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
| Montagetyp | Through Hole |
| Paket / Fall | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Lieferantengerätepaket | 24-PDIP |
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