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SN74ABT18245ADLR

SN74ABT18245ADLR

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT18245ADLR
PNEDA Teilenummer SN74ABT18245ADLR
Beschreibung IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 3.996
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74ABT18245ADLR Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT18245ADLR
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT18245ADLR Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Bus Transceivers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits18
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket56-SSOP

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Hersteller

Serie

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

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Montagetyp

Surface Mount

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Hersteller

Serie

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

4.75V ~ 5.25V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

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ON Semiconductor

Hersteller

ON Semiconductor

Serie

10H

Logiktyp

Driver/Receiver

Versorgungsspannung

-

Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

0°C ~ 75°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

20-LCC (J-Lead)

Lieferantengerätepaket

20-PLCC (9x9)

SY10E116JC

Microchip Technology

Hersteller

Microchip Technology

Serie

10E

Logiktyp

Differential Receiver

Versorgungsspannung

4.2V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

5

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

28-LCC (J-Lead)

Lieferantengerätepaket

28-PLCC (11.48x11.48)

74GTLP22034DGGRE4

Texas Instruments

Hersteller

Serie

74GTLP

Logiktyp

LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver

Versorgungsspannung

3.15V ~ 3.45V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

Lieferantengerätepaket

48-TSSOP

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