SN74ABTH18652APM
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| Teilenummer | SN74ABTH18652APM |
| PNEDA Teilenummer | SN74ABTH18652APM |
| Beschreibung | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
| Hersteller | Texas Instruments |
| Stückpreis | Angebot anfordern |
| Auf Lager | 8.232 |
| Lager | Shipped from Hong Kong SAR |
| Voraussichtliche Lieferung | Jun 15 - Jun 20 (Wählen Sie Expressed Shipping) |
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SN74ABTH18652APM Ressourcen
| Marke | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Artikelnummer | SN74ABTH18652APM |
| Kategorie | Halbleiter › Logik-ICs › Logik - Speziallogik |
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SN74ABTH18652APM Technische Daten
| Hersteller | |
| Serie | 74ABTH |
| Logiktyp | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
| Anzahl der Bits | 18 |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Montagetyp | Surface Mount |
| Paket / Fall | 64-LQFP |
| Lieferantengerätepaket | 64-LQFP (10x10) |
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