SN74BCT8374ADWR
Nur als Referenz
| Teilenummer | SN74BCT8374ADWR |
| PNEDA Teilenummer | SN74BCT8374ADWR |
| Beschreibung | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
| Hersteller | Texas Instruments |
| Stückpreis | Angebot anfordern |
| Auf Lager | 7.290 |
| Lager | Shipped from Hong Kong SAR |
| Voraussichtliche Lieferung | Jun 1 - Jun 6 (Wählen Sie Expressed Shipping) |
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SN74BCT8374ADWR Ressourcen
| Marke | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Artikelnummer | SN74BCT8374ADWR |
| Kategorie | Halbleiter › Logik-ICs › Logik - Speziallogik |
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SN74BCT8374ADWR Technische Daten
| Hersteller | |
| Serie | 74BCT |
| Logiktyp | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
| Anzahl der Bits | 8 |
| Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
| Montagetyp | Surface Mount |
| Paket / Fall | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Lieferantengerätepaket | 24-SOIC |
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