SN74LVTH182646APM
Nur als Referenz
| Teilenummer | SN74LVTH182646APM | ||||||||||||||||||
| PNEDA Teilenummer | SN74LVTH182646APM | ||||||||||||||||||
| Beschreibung | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | ||||||||||||||||||
| Hersteller | Texas Instruments | ||||||||||||||||||
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| Auf Lager | 750 | ||||||||||||||||||
| Lager | Shipped from Hong Kong SAR | ||||||||||||||||||
| Voraussichtliche Lieferung | Mai 24 - Mai 29 (Wählen Sie Expressed Shipping) | ||||||||||||||||||
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SN74LVTH182646APM Ressourcen
| Marke | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Artikelnummer | SN74LVTH182646APM |
| Kategorie | Halbleiter › Logik-ICs › Logik - Speziallogik |
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SN74LVTH182646APM Technische Daten
| Hersteller | |
| Serie | 74LVTH |
| Logiktyp | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers |
| Versorgungsspannung | 2.7V ~ 3.6V |
| Anzahl der Bits | 18 |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Montagetyp | Surface Mount |
| Paket / Fall | 64-LQFP |
| Lieferantengerätepaket | 64-LQFP (10x10) |
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