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SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Nur als Referenz

Teilenummer SN74BCT8245ANTG4
PNEDA Teilenummer SN74BCT8245ANTG4
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 5.148
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74BCT8245ANTG4 Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74BCT8245ANTG4
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74BCT8245ANTG4 Technische Daten

Hersteller
Serie74BCT
LogiktypScan Test Device with Bus Transceivers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur0°C ~ 70°C
MontagetypThrough Hole
Paket / Fall24-DIP (0.300", 7.62mm)
Lieferantengerätepaket24-PDIP

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Hersteller

Serie

-

Logiktyp

1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer

Versorgungsspannung

1.7V ~ 1.9V

Anzahl der Bits

25, 14

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

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Texas Instruments

Hersteller

Serie

74ABT

Logiktyp

Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Lieferantengerätepaket

28-SOIC

SN74S1053DW

Texas Instruments

Hersteller

Serie

74S

Logiktyp

Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array

Versorgungsspannung

-

Anzahl der Bits

16

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Lieferantengerätepaket

20-SOIC

74ABT899CQC

ON Semiconductor

Hersteller

ON Semiconductor

Serie

74ABT

Logiktyp

Parity Generator/Checker

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

9

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

28-LCC (J-Lead)

Lieferantengerätepaket

28-PLCC (11.43x11.43)

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